Microscopio electrónico de transmisión

Principio

La microscopía electrónica de transmisión (TEM) consiste en obtener imágenes de una muestra ultrafina (natural o "transversal" obtenida por ultramicrotomía) mediante un haz de electrones dilatado que atraviesa toda la muestra al mismo tiempo.

Instrumentos disponibles:

Campus CS

Descripción

Marca : JEOL
Modelo : JEM-2100
Tipo : Microscopio electrónico de transmisión
Fuente de electrones: filamento de LaB6
Alta tensión: 200kV
Pieza de poste: Cryo
Resolución máxima: modo imagen 0,14nm, modo punto 0,27nm
Aumento máximo: x 1.000.000
2 Caméras (Gatan) : SC200D, US4000
Detector STEM (JEOL): campo claro, campo oscuro
Detector EDX (Bruker): XFlash 5030
EELS, filtro de energía EFTEM (Gatan): GIF Quantum
MDS "sistema de dosis mínima" (JEOL)
Sistema anticontaminación (ACD)
Desplazamiento motorizado de la muestra con control de aumento
Aumento: hasta x 1000.000
Portamuestras (JEOL): Estándar, Berilio (EDX), Cuarteto, Tomografía Electrónica
Portamuestras Cryo + controlador de temperatura (Gatan)
Software: JEOL (ajustes TEM /STEM, adquisición STEM), Gatan DigitalMicrograph GMS 2 (adquisición de imágenes TEM, tomografía, EELS, EFTEM...), Bruker Esprit 2 (análisis EDX)

Aplicaciones

Observaciones TEM (Microscopía Electrónica de Transmisión) : Campo claro, Campo oscuro
Observaciones STEM (Microscopía Electrónica de Transmisión de Barrido): campo claro, campo oscuro, HAADF
Tomografía electrónica (software Gatan)
Crio-observación
Análisis químico: EDX / EELS

Localización: Cité Scientifique - Edificio SN3 - Sótano

Contacto : Loïc Brunet | 03.20.43.41.03

Tasa de uso

54€/hora " para académicos internos " (suministro de nitrógeno líquido además)
67€/hora "para académicos externos" (suministro de nitrógeno líquido no incluido)
Preparación de la muestra (bajo presupuesto)
Tarifas de todos los servicios para empresas privadas (a petición)

Reservar