Microscopía electrónica

La plataforma de microscopía electrónica del BICeL, situada en los campus del Instituto Pasteur de Lille y de la Cité Scientifique de Villeneuve d'Ascq, ofrece una serie de equipos y competencias para la formación, el asesoramiento, la preparación de muestras, así como las observaciones y los análisis por microscopía electrónica de transmisión y de barrido.

La plataforma está abierta a todos los usuarios académicos locales, regionales y nacionales, así como a usuarios no académicos de empresas privadas.

El acceso y el funcionamiento de la plataforma están sujetos a las normas definidas en las condiciones de acceso a la plataforma BICeL.

La microscopía electrónica es una tecnología de imagen multidisciplinar que se basa en el uso de un haz de "electrones" para irradiar una muestra y formar una imagen que puede ampliarse enormemente (hasta varios millones de veces); los microscopios electrónicos tienen un poder de resolución de imagen comparativamente mucho mayor que los microscopios fotónicos (cuya tecnología de imagen se basa en el uso de un haz de "luz"); La alta resolución de imagen y los aumentos asociados de la "microscopía electrónica" son físicamente posibles gracias a la longitud de onda del haz de electrones utilizado, que es mucho menor que la de un haz de partículas de luz (también llamadas "fotones") en el caso de la microscopía fotónica.

Los microscopios electrónicos utilizan un cañón de electrones como fuente de radiación, así como lentes electromagnéticas para la obtención de imágenes y el control físico del haz de electrones; en cambio, los microscopios fotónicos utilizan fuentes de luz y lentes de cristal.

Existen tres técnicas principales en la observación por microscopía electrónica (TEM, SEM, STEM).

Además de las tres técnicas mencionadas, existen muchas otras modalidades de observación (y también de análisis químico) que pueden utilizarse en los microscopios cuya configuración técnica lo permita.

Las microscopías fotónicas y electrónicas son obviamente complementarias y cada una de ellas demuestra sus intereses respectivos (o comunes) en los diversos estudios para los que se utilizan. Algunos estudios combinan estrechamente las dos técnicas, esta modalidad se denomina microscopía correlativa (CLEM)

APLICACIONES de la microscopía electrónica

En biología, cada una de las técnicas y métodos de observación utilizados en microscopía electrónica da acceso a información específica o complementaria que permite caracterizar las muestras de tejidos o células observadas, especialmente en términos de dimensión, morfología, estructura, función y citoquímica.

Algunas técnicas adicionales basadas en detectores (de electrones u otras radiaciones) u otros dispositivos específicos también permiten acceder, por ejemplo, a análisis químicos a escala microscópica (EDX, EELS), y otras permiten la criopreparación de muestras y la criobservación (en lugar de la preparación química), y observaciones, realizadas a temperatura ambiente), o para prever reconstrucciones tridimensionales, recogiendo imágenes individuales en diferentes ángulos de rotación o diferentes alturas de la muestra (tomografía electrónica, bloque de serie de 3 vistas, FIB SEM).

Técnicas disponibles

• Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Instrumentos disponibles :

1. en el Campus Pasteur > Hitachi H7500
2. en el Campus Cité Scientifique > Jeol JEM-2100 (con posibilidad de STEM)

• Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Instrumento disponible en el Campus Pasteur > Zeiss Merlin VP

• Preparación de muestras para su observación y análisis

Métodos propuestos

• Caracterización morfológica y dimensional
• Citoquímica e inmunocitoquímica
• Análisis químico EDX, EELS
• Sistema de visualización 3D "3view
• Crio-observación
• Tomografía electrónica
• Microscopía correlativa (CLEM)
• Preparación de la muestra química
• Criopreparación de muestras
• Ultramicrotomía
• Tinción negativa

Programas informáticos utilizados

• JEOL viewer
• Gatan GMS 2 (Digital Micrograph)
• Bruker Esprit 2, …

LÉXICO

EDX : Análisis de rayos X de energía dispersiva

EELS : Espectrometría de pérdida de energía de electrones

CLEM : Microscopía óptica y electrónica correlativa

3view serial block : sistema de visualización SEM-3D a partir de secciones seriadas realizadas por ultramicrotomía in situ (en la cámara del microscopio)

FIB-SEM : Tomografía SEM tridimensional