Démonstration Nikon DeepSIM
La super-résolution pour échantillons épais est là !
Du 2 au 5 avril 2024, nous accueillons sur site la société Nikon qui nous présentera le système de super-résolution DeepSIM de CREST OPTICS. La machine sera installée à l’IBL et nous pourrons l’essayer sur des échantillons de tout type (cellule, organoïde, micro-fluidique, organe sur puce…).
Je joints le lien vers le site CREST OPTICS : https://crestoptics.com/deepsim/ , vous y trouverez des notes d’applications sur des exemples en neurobiologie, infectiologie, et imagerie d’échantillons semi épais ou transparent.
Le module est adaptable sur le système spinning disk X-Light V3 et peux répondre aux problématiques d’observations à haute-résolution (100nm en XY, 300nm en Z), multicanaux, en live-imaging, y compris sur échantillons semi-épais.
La super-résolution permet d’imager des structures <100nm sur échantillon cellulaire. La particularité du DeepSIM est la possibilité d’imager également des échantillons semi-épais (ex : organoïde, micro fluidique, organe sur puce, organes transparisé…). Autre avantage, la technologie DeepSIM est directement implémentable sur certains systèmes du BICeL.
Des créneaux de 1h30 vous sont proposés pour vous permettre de tester la technologie. La réservation s’effectue directement via le lien EVENTO ci-dessous :
evento.renater.fr/survey/demo-deepsim-2s2y43xa
Nous pourrons vous conseiller sur les marquages à utiliser et vous accompagner sur une session de démonstration.